English  |  正體中文  |  简体中文  |  Post-Print筆數 : 11 |  Items with full text/Total items : 89327/119107 (75%)
Visitors : 23835764      Online Users : 98
RC Version 6.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
Scope Tips:
  • please add "double quotation mark" for query phrases to get precise results
  • please goto advance search for comprehansive author search
  • Adv. Search
    HomeLoginUploadHelpAboutAdminister Goto mobile version
    Please use this identifier to cite or link to this item: http://nccur.lib.nccu.edu.tw/handle/140.119/113805


    Title: TANet區網國外訊務傳輸品質之監測與分析
    The Transmission Quality Analysis of TANet’s Internet Traffic
    Authors: 楊素秋
    曾黎明 
    Keywords: In/Out Cell MIB;Cell Drop MIB;Cell_Drop_Ratio;Transmission Quality Monitoring
    Date: 2000
    Issue Date: 2017-10-18 16:54:03 (UTC+8)
    Abstract: TANet 於1990年藉由接往美國的國外專線連上 Internet後,其國外訊務交換量便持續成長. 由於目前由TANet、中研院、國家高速電腦中心共享的 45 Mbps T3國外頻寬已經飽和, 使用者普遍對其區網國外連網的傳輸品質感到好奇. 由於TANet 15個區網的國外Internet訊務均經由 Moe ATM Switch下接之 Internet_router交換, 我們藉由 SNMP網管應用程式擷取Moe Switch上各區網連往Internet _router的15個VC,動態地產生相對的 MRTG 設定檔;並週期性地驅動 MRTG 萃取Per-VC的 In/Out Cell及Cell_Drop/EPD MIB, 持續更新各區網Internet國外訊務與傳輸封包遺失的統計WebPages,供各區使用者監測. 我們也統計出Per -VC之單日CDR(Cell Drop Ratio),做為衡量各區網國外訊務的傳輸品質指標,分析各區網國外訊務量與相對Daily CDR傳輸品質的變化狀況.我們也依據T3國外專線 clock shift期間實測之 Per-VC訊務傳輸資料, 分析劣化實體傳輸線路對各區網國外傳訊品質的影響. 由於各區網 router statistic multiplexing轉送的連網使用者及 IP 訊務量均相當龐大且 bursty. Per-VC實際發生高CDR的時段相當burst且短暫,總體而言,絕大部份時段的TANet區網國外訊務品質尚能維持
    Relation: 2000台灣區網際網路研討會論文集
    一般論文
    Data Type: conference
    Appears in Collections:[TANET 台灣網際網路研討會] 會議論文

    Files in This Item:

    File Description SizeFormat
    094.pdf222KbAdobe PDF135View/Open


    All items in 政大典藏 are protected by copyright, with all rights reserved.


    社群 sharing

    著作權政策宣告
    1.本網站之數位內容為國立政治大學所收錄之機構典藏,無償提供學術研究與公眾教育等公益性使用,惟仍請適度,合理使用本網站之內容,以尊重著作權人之權益。商業上之利用,則請先取得著作權人之授權。
    2.本網站之製作,已盡力防止侵害著作權人之權益,如仍發現本網站之數位內容有侵害著作權人權益情事者,請權利人通知本網站維護人員(nccur@nccu.edu.tw),維護人員將立即採取移除該數位著作等補救措施。
    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - Feedback